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研究開発報告書類（JAEA-Research等）学会誌等掲載論文口頭発表特許

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論文

スミヤ法による表面汚染密度の測定に関する実験

吉田芳和*; 佐々木幸男*; 村田幹生*; 井沢庄治; 池沢芳夫

日本原子力学会誌, 6(2), p.77 - 81, 1964/00

https://doi.org/10.3327/jaesj.6.77

スミヤ法は表面汚染度を測定するために用いられるが、得られる測定値は表面材料、R.I.の種類とその化学的形態、スミヤするときの表面にかかる圧力等により大きく変化するものと考えられる。これらの諸条件がスミヤ測定値に及ぼす影響を調べ、2、3の興味ある結果を得たので報告する。